Dongguan Chuangrui New Energy Co., Ltd topfer99@126.com 86--13018677119
製品詳細
Place of Origin: China
ブランド名: Topfer
Model Number: Top-Smart 2000
支払いと送料の条件
Minimum Order Quantity: one set
価格: to be discussed
Packaging Details: wooden crate
Delivery Time: 2 to 3 weeks
Payment Terms: T/T
Supply Ability: 10 sets /30 days
Color: |
gray |
simultaneously measurable: |
4-16 power supply products |
Altitude: |
1.7m |
Customizable: |
Yes |
Product Usage: |
Automatic Testing for Adapter Products |
Function: |
Rapidly test the performance of various power supply products. |
Color: |
gray |
simultaneously measurable: |
4-16 power supply products |
Altitude: |
1.7m |
Customizable: |
Yes |
Product Usage: |
Automatic Testing for Adapter Products |
Function: |
Rapidly test the performance of various power supply products. |
工場直販電源 ATE、高電圧試験電源、自動テスター、バッテリー総合テスター
自動電源試験システムの8つの利点：
1. 高速、高効率、高い信頼性;
2. 大量生産により、使用コストを大幅に削減できます（手動試験と比較して）。
3. いつでも参照できるように、自動的に試験レポートを生成できます。
4. 不良品の統計分析能力を持ち、エンジニアが不良品の原因を分析するのを支援できます。
5. システム設計は柔軟で、顧客自身のニーズに合わせてカスタマイズできます。
6. 安定性と信頼性があり、さまざまな試験を完了するために最適な機器の組み合わせを選択します;
7. 電源試験システムの価格は制御可能です。顧客自身のニーズに応じて、使用中に最適なコストパフォーマンスの試験機器を選択して、システム全体の価格を下げることができます。
8. 経済的で費用対効果が高く、顧客の既存の適切な機器を電源試験システムに適用して、顧客の機器更新による元の機器の無駄を回避できます。
オープン
• 顧客のニーズに応じて、さまざまな試験デバイス（GPIB、RS-232、USBインターフェースを備えたデバイスなど）を追加または削除できるオープンハードウェアプラットフォーム
• ATE電源試験システムは、複数のシングルグループ/マルチグループ出力電源の同時試験をサポートし、生産ラインの能力を大幅に向上させます。
• オープンソフトウェアプラットフォームであるATE電源試験システムは、顧客の試験要件に基づいて新しい試験項目と機能を拡張できます。
• ATE電源試験システムは、試験中の複数のレーンバーコード事前スキャンとスキャンを同時にサポートし、全体の試験速度を向上させます。
ユニバーサル
• ATE電源試験システムは、さまざまな電源（LED電源、アダプター/充電器、PC電源、インバーター、通信電源など）の試験をサポートしています。
• ENERGY STARおよびIEC 62301の測定要件に準拠しています。
• 製造情報システム（ShopFloor）インターフェースをサポートしています。
• ATE電源試験システムは、CV、CC、CR、LEDモードでさまざまな電力パラメータの試験をサポートしています。
• 表示モードを最適化し、ハードウェア構成の任意の組み合わせを可能にします。
高速
• ATE電源試験システムは、複数のシングルグループ/マルチグループ出力電源の同時試験をサポートし、生産ラインの能力を大幅に向上させます。（LED電源/アダプター/充電器の試験速度は、広く使用されている6000シリーズ電源自動システムの2倍以上です。）
• 試験中に並列バーコードスキャンを実行し、試験速度を大幅に向上させます。
Top-Smart 2000 ATE電源試験システム試験項目：
| 試験項目 | 総合試験項目 |
| CEC試験 | 短絡試験 |
| C.V.モードでのDC電流 | 短絡電流 |
| ピークツーピークノイズ | OV保護 |
| シリアル反応時間試験 | UV保護 |
| 過渡応答時間 | OL保護 |
| 過渡スパイク | OP保護 |
| トラッキング | 試験中の調整試験 |
| 電圧調整 | ACサイクルドロップアウト |
| 電流調整 | PLDシミュレーション |
| ターンオン時間 | DC出力電流試験 |
| 立ち上がり時間 | DC出力電圧試験 |
| 立ち下がり時間 | 波形読み取り試験 |
| ホールドアップ時間 | 入力インパルス電流試験 |
| 突入電流試験 | 入力電力 |
| パワーグッド信号 | リレー制御 |
| 電源障害信号 | バーコードスキャン |
| P/S ON信号 | ダイナミック試験 |
| 電源投入シーケンス | C.P.モードでの仕様 |
| 電源オフシーケンス | 入力ピーク電流 |
| 効率試験 | 追加拡張測定試験 |
| 全体的な安定性試験 | 入力RMS電流 |
| ファン速度試験 | TTL信号制御 |
| 入力力率 | LAN読み取り/書き込み |
| 入力電圧ランプ | RS485読み取り/書き込み |
| 入力周波数ランプ | USB読み取り/書き込み |
| 測定試験の拡張 | 232読み取り/書き込み |
| 自動試験 | GPIB読み取り/書き込み |
ビデオ
ビデオ
ビデオ
ビデオ
ビデオ
ビデオ
ビデオ
ビデオ
ビデオ
ビデオ
ビデオ
